SIGMAKOKI/西格瑪光機自動偏光解析系統(tǒng)

基本構(gòu)成例

這里介紹幾種計測·解析的典型光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成例。

我們可根據(jù)您的目的或使用要求更改結(jié)構(gòu)和部件的型號，詳情請*詢。

在光源的后方設(shè)置偏光操作光學(xué)系統(tǒng)，可輸出任意偏光狀態(tài)的光束。

可選擇直線偏光，圓偏光，橢圓偏光以及長短軸比例，轉(zhuǎn)動方向等。

可用計算機動態(tài)控制。便于評估具有偏光依存性的樣品，或在光路后部進行偏光補償。

計測和解析入射光束偏光狀態(tài)的裝置。

可求入射偏光的斯托克斯參數(shù)S0?S3。

任意偏光光源，樣品保持機構(gòu)，偏光測定裝置的組合，可完成樣品的特性的測定。

可構(gòu)建透過型或反射型。

反射型即可測偏光特性，也可用作橢圓偏振光法（Elipsometry）。

可觀測紋理，加工應(yīng)變等，樣品內(nèi)部的應(yīng)變的裝置。

可把內(nèi)部應(yīng)變的分布和變化錄像。

承接生產(chǎn)設(shè)備或測定裝置，專用裝置的開發(fā)制造主要部件選用樣本上的標(biāo)準產(chǎn)品，既經(jīng)濟，又容易保證質(zhì)量和性能。
只需添置一些配合專用設(shè)備的零部件就可完成開發(fā)，效率高，容易實現(xiàn)個性化研發(fā)。

采用立式透過光學(xué)系統(tǒng)的偏光光學(xué)件特性評價系統(tǒng)

只需把被測樣品放置到臺架上就可完成測定。

可測定分光相位差，偏光分光特性，透過偏光比等。

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